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在做數(shù)據(jù)恢復(fù)的過程中，我們必將涉及到一些基本的概念。在這里，我們將根據(jù)自己的研究和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，總結(jié)并解釋一些關(guān)于“硬盤缺陷”問題。

Bad sector(壞扇區(qū)) 

我們在做數(shù)據(jù)恢復(fù)時，常常會聽到一個叫壞扇區(qū)的詞匯，那么什么是壞扇區(qū)呢？壞扇區(qū)便是指在硬盤中無法被正常訪問或不能被正確讀寫的扇區(qū)就叫做壞扇區(qū)，即Bad sector。一個扇區(qū)能存儲512字節(jié)的數(shù)據(jù)，如果在某個扇區(qū)中有任何一個字節(jié)不能被正確讀寫，則這個扇區(qū)為就是壞扇區(qū)。除了存儲512字節(jié)外，每個扇區(qū)還有數(shù)十個字節(jié)信息，包括標(biāo)識（ID）、校驗(yàn)值和其它信息。

這些信息任何一個字節(jié)出錯都會導(dǎo)致該扇區(qū)變“壞”。例如，在低級格式化的過程中每個扇區(qū)都分配有一個編號，寫在ID中。如果ID部分出錯就會導(dǎo)致這個扇區(qū)無法被訪問到，則這個扇區(qū)屬于壞扇區(qū)。有一些壞扇區(qū)能夠通過低級格式化重寫這些信息來糾正。

接下來我們講講（Bad cluster） 壞簇 ，在用戶對硬盤分區(qū)并進(jìn)行高級格式化后，每個區(qū)都會建立文件分配表（File Allocation Table, FAT)。    

FAT中記錄有該區(qū)內(nèi)所有cluster（簇）的使用情況和相互的鏈接關(guān)系。如果在高級格式化（或工具軟件的掃描）過程中發(fā)現(xiàn)某個簇使用的扇區(qū)包括有壞扇區(qū)，則在FAT中記錄該簇為壞簇，并在以后存放文件時不再使用該簇,以避免數(shù)據(jù)丟失。

有時病毒或惡意軟件也可能在FAT中將無壞扇區(qū)的正常簇標(biāo)記為壞簇, 導(dǎo)致正常簇不能被使用。這里需要強(qiáng)調(diào)的是，每個簇包括若干個扇區(qū)，只要其中存在一個壞扇區(qū)，則整個簇中的其余扇區(qū)都一起不再被使用。

Defect(缺陷) 

在硬盤內(nèi)部中所有存在缺陷的部分都被稱為缺陷。如果某個磁頭狀態(tài)不好，則這個磁頭為缺陷磁頭。如果盤面上某個Track(磁道)不能被正常訪問，則這磁道為缺陷磁道。

如果某個扇區(qū)不能被正常訪問或不能正確記錄數(shù)據(jù)，則該扇區(qū)也稱為缺陷扇區(qū)， 可以認(rèn)為壞扇區(qū) 等同于缺陷扇區(qū)，總的來說，某個硬盤只要有一部分存在缺陷，就稱這個硬盤為Defect hard disk。

P-list(永久缺陷表) 

現(xiàn)在的硬盤密度越來越高，單張盤片上存儲的數(shù)據(jù)量超過40Gbytes. 硬盤廠家在生產(chǎn)盤片過程極其精密，但也極難做到100%的完美，硬盤盤面上或多或少存在一些缺陷。

廠家在硬盤出廠前把所有的硬盤都進(jìn)行低級格式化，在低級格式化過程中將自動找出所有缺陷磁道和缺陷扇區(qū)，記錄在永久缺陷表中。

并且在對所有磁道和扇區(qū)的編號過程中，將跳過這些缺陷部分，讓用戶永遠(yuǎn)不能用到它們。這樣，用戶在分區(qū)、格式化、檢查剛購買的新硬盤時，很難發(fā)現(xiàn)有問題。一般的硬盤都在永久缺陷表中記錄有一定數(shù)量的缺陷， 少則數(shù)百，多則數(shù)以萬計。

如果是SCSI硬盤的話可以找到多種通用軟件查看到永久缺陷表，因?yàn)楦鞣N牌子的SCSI硬盤使用兼容的SCSI指令集。而不同牌子不同型號的IDE硬盤，使用各自不同的指令集，想查看其永久缺陷表要用針對性的專業(yè)軟件。

G-list（增長缺陷表)

用戶在使用硬盤過程中，有可能會發(fā)現(xiàn)一些新的缺陷扇區(qū)。按“三包”規(guī)定，只要出現(xiàn)一個缺陷扇區(qū)，商家就應(yīng)該為用戶換或修?，F(xiàn)在大容量的硬盤出現(xiàn)一個缺陷扇區(qū)概率實(shí)在很大，這樣的話硬盤商家就要為售后服務(wù)忙碌不已了。

于是，硬盤廠商設(shè)計了一個自動修復(fù)機(jī)制，叫做Automatic Reallcation。大多數(shù)型號的硬盤都有這樣的功能：在對硬盤讀寫的過程中，如果發(fā)現(xiàn)一個缺陷扇區(qū)，則自動分配一個備用扇區(qū)替換該扇區(qū)，并將該扇區(qū)及其替換情況記錄在增長缺陷表中。這樣一來，少數(shù)缺陷扇區(qū)對用戶的使用沒有太大的影響。

也有一些硬盤自動修復(fù)機(jī)制的激發(fā)條件要嚴(yán)格一些，需要用某些軟件來判斷缺陷扇區(qū),并通過某個端口（據(jù)說是50h）調(diào)用自動修復(fù)機(jī)制。比如常用的Lformat, AD M，DM中的Zero fill，Norton中的Wipeinfo和校正工具，西數(shù)工具包中的wddiag, IBM的DFT中的Erase等。

這些工具之所以能在運(yùn)行過后消除了一些“壞道”，很重要的原因就在這Automatic Reallcation（當(dāng)然還有其它原因），而不能簡單地概括這些“壞道”是什么“邏輯壞道”或“假壞道”。 

如果哪位被誤導(dǎo)中毒太深的讀者不相信這個事實(shí)，等他找到能查看增長缺陷表的專業(yè)工具后就知道，這些工具運(yùn)行過后，增長缺陷表將會增加多少記錄！“邏輯壞道”或“假壞道”有必要記錄在增長缺陷表中并用其它扇區(qū)替換么？

當(dāng)然，增長缺陷表的記錄不會無限制，所有的硬盤都會限定在一定數(shù)量范圍內(nèi)。如火球系列限度是500，美鉆二代的限度是636，西數(shù)BB的限度是508，等等。超過限度，Automatic Reallcation就不能再起作用。

這就是為何少量的“壞道”可以通過上述工具修復(fù)（有人就概括為：“邏輯壞道”可以修復(fù)），而壞道多了不能通過這些工具修復(fù)（又有人概括為：“物理壞道”不可以修復(fù)）。

Bad track (壞道)這個概念源于十多年前小容量硬盤（100M以下），當(dāng)時的硬盤在外殼上都貼有一張小表格，上面列出該硬盤中有缺陷的磁道位置（新硬盤也有）。

在對這個硬盤進(jìn)行低級格式化時（如用ADM或DM 5.0等工具,或主板中的低格工具），需要填入這些壞道的位置, 以便在低格過程中跳過這些磁道?，F(xiàn)在的大容量硬盤在結(jié)構(gòu)上與那些小容量硬盤相差極大，這個概念用在大容量硬盤上有點(diǎn)牽強(qiáng)。

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